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Nikon N-SIM S & TIRF(结构光照明和全内反射显微镜)
发布时间:2022-09-02  来源:  阅读次数:


设备名称:

Nikon N-SIM S & TIRF(结构光照明和全内反射显微镜)


设备简介:

结构光照明显微镜(Structured illumination microscope,SIM),利用带有精细条纹的照明光源,投射到样本上生成摩尔纹图形,通过改变照明光的角度和相位,提取样品中的高频信息并重建出超分辨率图像。

全内反射荧光显微镜(Total internal reflection fluorescent microscope,TIRF),利用全内反射产生的隐逝波激发样品,从而使样品表面数百纳米内的荧光基团受到激发,产生荧光信号。

中心本设备整合了SIMTIRF技术,具有2D-SIM、3D-SIM、TIRF成像模式。适用于观察较薄样品(如贴壁细胞、细/真菌等微生物)中蛋白或生物大分子在细胞内/膜上的空间分布以及精细结构。


技术参数:

1. 物镜:10X, 20X, 40X, 60X(W), 100X (Oil), 100X (Sil);

2. 激光:405nm, 488nm, 561nm, 640 nm;

3. 检测器:两个ORCA-Flash 4.0sCMOS相机;

4. 最高分辨率:

  3D-SIM模式: XY方向115nm,Z方向269nm

  TIRF模式: XY方向200-300nm, Z方向100nm

5. 该显微镜配有活细胞培养装置和计算机工作站。


联系方式:

房间号:224     负责人:靖静     办公室电话:68750166      邮箱:jingj@whu.edu.cn

地 址:湖北省武汉市武昌区东湖路115号 邮政编码:430071 电 话:027-68750205  邮 箱:mri@whu.edu.cn

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